Hast加速老化试验箱和普通老化试验箱的区别

产品特点：

一、核心定义与测试原理设备类型HAST加速老化试验箱普通老化试验箱全称高压加速应力测试（Highly Accelerated Stress Test）通用老化试验箱（Accelerated Aging Chamber）测试原理通过高温（130℃±2℃）+高湿（>95% RH）加速材料/器件失效通过恒温（通常85℃±2℃）模拟长期环境老化加速机制压力差加速水分子渗透，缩短

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产品详情

一、核心定义与测试原理

设备类型	HAST加速老化试验箱	普通老化试验箱
全称	高压加速应力测试（Highly Accelerated Stress Test）	通用老化试验箱（Accelerated Aging Chamber）
测试原理	通过高温（130℃±2℃）+高湿（>95% RH）加速材料/器件失效	通过恒温（通常85℃±2℃）模拟长期环境老化
加速机制	压力差加速水分子渗透，缩短测试周期（3-7天）	热应力主导，周期较长（7-30天）

数据来源：

IEC 60068-2-78:2021（HAST标准）
ASTM G154-23（普通老化参考标准）

二、关键参数对比

参数	HAST	普通老化试验箱
温度范围	100-135℃（峰值135℃）	50-150℃（常规50-100℃）
湿度控制	饱和蒸汽加湿（>95% RH）	部分型号支持加湿（≤85% RH）
压力环境	高压密闭环境（需耐压设计）	常压环境
测试周期	3-7天（加速因子≥1000倍）	7-30天（加速因子10-100倍）
适用标准	MIL-STD-883 Method 1019.7（2022版）	GB/T 1498.1-2020（通用老化）

三、应用场景差异

应用场景	HAST	普通老化试验箱
典型行业	半导体封装、航空航天电子、汽车电子	塑料、橡胶、涂料、电线电缆
测试对象	IC芯片、LED封装、PCB板	塑料制品、绝缘材料、涂层材料
失效模式	焊点腐蚀、封装开裂、水汽渗透	材料脆化、变色、机械性能下降

风险提示：

HAST可能对非密封材料（如多孔陶瓷）造成不可逆损伤，需结合材料特性验证（参考JEDEC JESD22-A110K 2023）。
普通老化试验箱，可能低估电子元件的可靠性风险。

四、设备结构与成本

维度	HAST	普通老化试验箱
控制系统	高精度PID温湿度控制（±0.5℃/±2% RH）	基础PID控制（±1℃/±5% RH）
安全设计	防爆门、压力释放阀、双路电源冗余	基础漏电保护
维护成本	年均维护费用约设备价格的15%-20%	年均维护费用约设备价格的5%-10%
市场均价（2023）	人民币80万-150万元/台	人民币10万-50万元/台