三箱式半导体冷热冲击试验机

三箱式冷热冲击试验箱适用于考核产品(整机) 、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力，该温度冲击试验能够了解试验样本一次或连续多次因温度急剧变化而带来的影响。

满足标准:

B-2423.1-2008(IEC68-2-1)试验A:低温试验方法

GB-2423.2-2008(IEC68-2-2)试验B:高温试验方法

GJBl50.3-2009(MIL-STD-810D)高温试验方法

GJBI50.4-2009(MIL-STD-810D)低温试验方法

GJBl50.5-2009温度冲击试验方法

三箱式冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。冷热冲击试验箱满足的试验：GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击试验。高低温冲击试验箱根据试验需求及测试标准分为三箱式和两箱式，区别在于试验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室，蓄热室和试验室，产品在测试时是放置在试验室。两箱式分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。

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