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升降温速率可以调节试验箱

产品特点:
升降温速率可以调节试验箱适用于航空航天产品,通讯产品,信息电子仪器仪表,工业材料,零配件,电子产品,各种电子元器件等物品做应力筛选试验。升降温速率可以调节试验箱符合标准:GJB/150.3A-2009 装备实验室环境试验方法第3部分:高温试验。GJB/150.4A-2009 装备实验室环境试验方法第4部分:低温试验。GB/T
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产品详情

升降温速率可以调节试验箱适用于航空航天产品,通讯产品,信息电子仪器仪表,工业材料,零配件,电子产品,各种电子元器件等物品做应力筛选试验。

升降温速率可以调节试验箱符合标准:

GJB/150.3A-2009  装备实验室环境试验方法第3部分:高温试验。

GJB/150.4A-2009  装备实验室环境试验方法第4部分:低温试验。

GB/T 5170.1-2008  电工电子产品环境试验设备检验方法 总则。

GB/T 2423.3-2006  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验。

GB/T 2423.4-2008  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Db:交变湿热(12h + 12h循环)。

GJB/150.9A-2009  装备实验室环境试验方法第9部分:湿热试验。

GB/T 2423.1-2008  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温。

GB/T 2423.2-2008  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温。

GB/T 2423.22-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验N:温度变化。

GB/T 10586 -2006  湿热试验箱技术条件;GB/T 10592 -2008  高低温试验箱技术条件。

产品&规范

厂商名称

高温

低温

温变率

循环数

循环时间

备注

MIL-STD-2164、GJB-1032-90

电子产品应力筛选

——

工作极限温度

工作极限温度

5℃/min

10~12

3h20min

——

MIL-344A-4-16

电子设备环境应力筛选

设备或系统

71℃

-54℃

5℃/min

10

——

——

MIL-2164A-19

电子设备环境应力筛选方法

——

工作极限温度

工作极限温度

10℃/min

10

——

驻留时间为内部达到温度10℃时

NABMAT-9492

美军制造筛选

设备或系统

55℃

-53℃

15℃/min

10

——

驻留时间为内部达到温度5℃时

GJB/Z34-5.1.6

电子产品定量环境应力筛选指南

组件

85℃

-55℃

15℃/min

≧25

——

达到温度稳定的时间

GJB/Z34-5.1.6

电子产品定量环境应力筛选指南

设备或系统

70℃

-55℃

5℃/min

≧10

——

达到温度稳定的时间

笔记本电脑

主板厂商

85℃

-40℃

15℃/min

——

——

——

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