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可程式恒定温湿度测试箱

产品特点:
可程式恒定温湿度测试箱特别适用于光纤、LCD、晶体、电感、PCB、 电池、手机、电脑等产品的耐高温、耐低温、耐潮湿循环试验。
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产品详情

可程式恒定温湿度测试箱特别适用于光纤、LCD、晶体、电感、PCB、 电池、手机、电脑等产品的耐高温、耐低温、耐潮湿循环试验。

可程式恒定温湿度测试箱在一定空间内形成特定温湿度的设备,适用于电子产品及电子零部件、材料、纤维、制药、电池等现代工业产品耐久性和可靠性测试的必备设备。在设定时间内模拟形成各种严酷气候条件,可预测正常条件下的耐久性试验。在加温、冷却、除湿、加湿完美调和控制下形成高精度的温湿度环境。

符合标准:

   GB/T5170.2-2008温度试验设备

   GB/2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007)低温试验方法AB。

   GB/2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高温试验方法BA。

   GB/T5170.5-2008湿热试验设备。

   GJBl50.4(MIL-STD-810D)低温试验方法。

   GB2423.3-93(IEC68-2-3)试验Ca:恒定湿热试验方法。

   GB2423.4-93(IEC68-2—30)试验Db:交变湿热试验方法。

型号:LQ-TH-80/LQ-TH-150/LQ-TH-225/LQ-TH-408/LQ-TH-800/LQ-TH-1000。

内箱尺寸(W×H×D)cm:80L:40×50×40; 150L:50×60×50; 225L:50×75×60;408L:60×85×80;800L:100×100×80;1000L:100×100×100;备注更多非标尺寸可来电柳沁非标定制。

温度范围可选:A:0℃~150℃/B:-20℃~150℃/;C:-40℃~150℃/;D:-70℃~150℃/(可任意调节)。

湿度范围:20%~98%RH(行业标准型)。

升降温速率:

RT<----->150℃ 约35分钟(非线性空载,约3.0℃/分钟)。

RT<----->-20℃ 约45分钟(非线性空载,约1.0℃/分钟)。

解析精度: 0.01℃。       

控制精度:≤±0.5℃。

均匀度:≦2.0℃。

电源功率:AC1¢3W 220V 50/60HZ或AC3¢5W380V 50/60HZ,功率电流视型号规格而定。


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