柳沁科技—快速变温冷热冲击箱是主要用于触摸屏行业产品做测试及试验的设备。用于自动化零部件、电子电器零组件、通讯组件、金属、汽车配件、化学材料、航天、兵工业、塑胶等行业、国防工业、BGA、电子芯片IC、PCB基扳、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于冷热骤变产出的化学变化或物理伤害。
柳沁科技—快速变温冷热冲击箱的常规型号和技术参数举例:
标准试验箱内箱尺寸:
内箱容积:宽mm×高mm ×深mm
27L:300 ×300×300
50L:350 ×400×350
80L:500 ×400×400
150L :600×500×500
250L :700×600×600
480L :800×800×750
标准尺寸可选(可非标定制)
温度范围
A系列: 40℃~150℃
B系列:-55℃~150℃
C系列:-65℃~150℃
一、产品名称 | 三箱式冷热冲击试验箱(水冷) | ||
1.1型号 1.2设备容积 1.3内箱尺寸约 1.4外型尺寸约 | LQ-TS-150A 150L W 60 x H 50 x D 50 cm (宽 x高 x深)可根据客户需求变换宽高深定制 W 160x H 200 x D 185 cm(宽 x高 x深)实际尺寸会有偏差出厂前可确认 | ||
二、参数性能 | |||
2.1使用环境条件 | 环境温度为+28℃、相对湿度≤85%、试验箱内无试样条件下 | ||
2.3温度使用范围 | -40℃~+150℃(此范围可任意设定长期使用) | ||
2.4蓄热温度范围 | RT~+165℃ | ||
2.5蓄冷温度范围 | RT~-55℃ | ||
2.6蓄热升温时间 | +20℃ → +165℃≤约30分钟 | ||
2.7蓄冷降温时间 | +20℃ → -55℃≤约60min | ||
2.8温度波动度 | 温度≤±0.5℃(温度波动度为中心点实测高温度和低温度之差的一半) | ||
2.9温度均匀度 | ≤±2℃温度均匀度为每次测试中实测高和低温度之差的算术平均值) | ||
2.10控制精度 | 温度:≤±0.2℃(指控制器设定值和控制器实测值之差) | ||
2.11温度解析精度 | 0.01℃ (即是温度范围可以解析精确到小数点后面的两位数) | ||
2.12温度转换时间 | 10秒种内完成 | ||
2.13温度恢复时间 | ≤5min | ||
2.14满足试验标准 | GJB150.5-1986温度冲击试验Test of temperature shock GJB360.7-1987温度冲击试验Test of temperature shock GJB367.2-1987温度冲击试验Test of temperature shock GB/T2423.1-2008 低温试验方法Test method of low temperature test GB/T2423.2-2008 高温试验方法Test method of high temperature test GB/T2423.22-2012 温度变化试验Test of temperature change QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等 | ||
2.15设备重量(约) | 约1100㎏ | ||

